Transmissionselektronenmikroskop – Philips CM200
Das CM200 kann im TEM- und STEM-Modus bei Spannungen von bis zu 200kV betrieben werden. Die Bildgebung im TEM-Modus erfolgt mit einer 2k x 2k CMOS-Kamera von TVIPS. Diese zeichnet sich durch schnelle Auslesezeiten mit frame rates von bis zu 1,8 fps aus. Für kristallographische Untersuchungen stehen zwei double-tilt-Halter zur Verfügung, mit denen sich ein großer Winkelbereich abdecken lässt(α ± 40°,β ± 30°). Zusätzlich ermöglicht ein Betrieb im STEM-Modus auch analytische Untersuchungen mittels EDX. Hierbei sind quantitative Punktmessungen und qualitative Flächenscans möglich.
- LaB6-Kathode
- Hochspannung – 200 kV
- 2k x 2k CMOS-Kamera F216 (TVIPS)
- EDX-Detektor (EDAX)
Verantwortlicher Mitarbeiter:
Department Werkstoffwissenschaften (WW)Andreas Bezold, M. Sc.
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)
Patrick Ortner
Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)
- Telefon: +49 9131 85-25240
- E-Mail: patrick.p.ortner@fau.de