Rasterkraftmikroskop – Bruker Dimension 3100

Rasterkraftmikroskop zur Untersuchung Probenoberflächen

Das Dimension 3100 AFM der Firma Bruker (ehemalig Veeco) wird eingesetzt, um Oberflächen verschiedenster Proben zu untersuchen. Dank der geräumigen Konstruktion des Geräts ist nur eine minimale Probenpräparation erforderlich. Das AFM unterstützt verschiedene Betriebsmodi: Contact, Tapping, Magnetic. Es kann deshalb eine große Auswahl von Materialien untersucht und hinsichtlich Topographie, Reibung und magnetischer Eigenschaften charakterisiert werden.

Spezifikationen

  • z Verfahrweg Messkopf: 8 µm
  • x-y Verfahrweg Messkopf: 100 µm x 100 µm
  • x-y „Closed Loop“ Regelungsschleife
  • max Probenhöhe: ca. 2cm

 

 

Verantwortliche Mitarbeiter:

Prof. Dr. rer. nat. Mathias Göken

Lehrstuhlleiter, Gruppenleiter Nanomechanik

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)


Anna Krapf, M. Sc.

Doktorandin

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)