Mikroskopie und Analyse

Auf der Seite der mikrostrukturellen Charakterisierung ist WWI mit vielen modernen mikroskopischen Methoden ausgestattet. Neben der Lichtmikroskopie stehen hierbei insbesondere die Rasterelektronenmikroskopie (REM) und die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) im Vordergrund. Die Focused-Ion-Beam-Technik (FIB) am REM erlaubt darüber hinaus eine zielgerichtete Analyse von interessanten Probenstellen. Eine entsprechende Analytik erlaubt die Ermittlung der chemischen Zusammensetzung (EDX) und der kristallographischen Orientierung (EBSD). Für die hochauflösende Untersuchung von Oberflächenstrukturen stehen ferner ein Laserscanningmikroskop (Gemeinschaftsgerät) und ein Rasterkraftmikroskop zur Verfügung. Mittels der vorhandenen Röntgendiffraktometer können die in den Werkstoffen auftretenden Phasen analysiert (z.B. Kristallstruktur, Gitterparameter, Textur, …) werden. Eine Heizkammer erlaubt hier Untersuchungen bis zu 1100°C. Besonders hervorzuheben sind auch die beiden Atomsonden, die es erlauben, die ortsaufgelöste chemische Zusammensetzung eines interessanten Probenbereichs mit atomarer Auflösung zu bestimmen.

• Atomsonde – Cameca Leap 4000X HR
• Atomsonde – Oxcart
• Dynamische Differenzkalorimetrie – Netsch 204 F1 Phoenix®
• Feldionenmikroskop
• Großkammer-Rasterelektronenmikroskop
• Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB – FEI Helios NanoLab 600i DualBeam
• Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB – Zeiss Crossbeam 1540
• Rasterkraftmikroskop – Dimension 3100
• Röntgendiffraktometer – Bruker D5000
• Röntgendiffraktometer – Bruker D8
• Transmissionselektronenmikroskop – Philips CM200