Hysitron Triboscope
AFM-Nanoindenter zur Erforschung der lokalen mechanischen Eigenschaften
Das Gerät besteht aus der Kombination eines Hysitron Triboscope Nanoindentierungsmesskopfes und eines Brucker Multimode AFM-Stage, und ermöglicht eine Nanometer-genaue Positionierung. Es wird zuerst die Oberfläche im AFM Modus abgebildet, dann eine Stelle definiert, und anschließend indentiert.
Spezifikationen
- max Kraft 10 mN
- Kraftauflösung 1 nN
- Verschiebungsauflösung 0.0004 nm
Verantwortliche Mitarbeiter:
Dr. mont. Michael Wurmshuber
Gruppenleiter Nanomechanik
Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)
- Telefon: +49 9131 85-27473
- E-Mail: michael.wurmshuber@fau.de