Hysitron Triboscope

AFM-Nanoindenter zur Erforschung der lokalen mechanischen Eigenschaften

Das Gerät besteht aus der Kombination eines Hysitron Triboscope Nanoindentierungsmesskopfes und eines Brucker Multimode AFM-Stage, und ermöglicht eine Nanometer-genaue Positionierung. Es wird zuerst die Oberfläche im AFM Modus abgebildet, dann eine Stelle definiert, und anschließend indentiert.

Spezifikationen

• max Kraft 10 mN
• Kraftauflösung 1 nN
• Verschiebungsauflösung 0.0004 nm